Les 4ème Journées de la mesure sous le signe d’une technicité accrue

Christian Verney, responsable du pôle Expertise-Métrologie-Etalonnage du Cetim présente les activités de son département ©IV

Organisées à Lyon les 3 et 4 octobre derniers par le Collège français de la métrologie (CFM), les Journées nationales de la mesure (J’M) étaient placées cette année sous le signe d’une technicité accrue.

Les J’M ont lieu tous les deux ans avec l’idée de présenter la mesure industrielle au plus près des besoins, de manière simple et concrète. Et cette année pour cette 4ème édition les organisateurs ont pointé la satisfaction des quelque 140 personnes et 85 sociétés qui étaient réunies à l’Espace Tête d’Or à Lyon, particulièrement sur le contenu technique.

Lors de la conférence plénière de la première journée, qui était sur le thème de la mesure dans l’usine connectée, Cosemi Corleto, président du CFM et dirigeant de la société Stil, fabricant français de capteurs optiques, a évoqué tous les enjeux liés à l’évolution de métrologie. Celle-ci n’est plus située en bout de chaîne de production pour des contrôles qualité, mais devient proactive au cœur même de la production. Le CFM a constitué en février dernier un groupe de travail pour réfléchir à ce sujet intitulé : « Creative Metrology » qui doit rendre un livre blanc en fin d’année.

Autre enjeu majeur évoqué lors de la conférence plénière du lendemain, celui de l’évolution normative et plus particulièrement des normes ISO 9001 et ISO/CEI 17025. De nombreux tutoriels thématiques sur les bonnes pratiques ainsi que des ateliers pratiques avec démonstrations d’instruments étaient organisés sur les deux journées par Aspec, BEA Métrologie, le Cetiat, le Cetim, le CT2M, CTS Climatique, JRI, Stil, Trescal et l’Université de Bourgogne.

Nous reviendrons en détail dans la version papier du magazine sur deux exposés du Cetim sur le concept GPS (spécification géométrique des produits) dans la déclaration de conformité et la présentation d’une méthode simple à mettre en œuvre pour l’incertitude de mesure. A noter que le Cetim-Ctedc dispose d’une plateforme métrologie qui propose aux entreprises diverses prestations (contrôle, étalonnage, conseil, formation).

Les prochains rendez-vous pour la métrologie seront le salon Global Industrie, qui aura lieu du 5 au 8 mars 2019 à Eurexpo Lyon avec 43 sociétés du secteur présentes et un nouveau salon de la mesure, le Measurement World, qui se tiendra du 24 au 26 septembre 2019 à Paris expo Porte de Versailles. Organisé par GL Events Exhibitions, cet événement regroupera l’univers de la mesure dans son sens le plus large incluant le contrôle, le process, le test, la vision et l’optique et se tiendra en même temps que le Congrès international de métrologie (CIM).

Isabelle Verdier